信息概要

光学透射电镜（TEM）测试是一种基于电子束与样品相互作用的高分辨率显微分析技术，广泛应用于材料科学、纳米技术、生物医学等领域。该测试通过透射电子成像和衍射分析，可获取样品的微观形貌、晶体结构、元素分布等信息。检测的重要性在于其为产品质量控制、研发优化及失效分析提供关键数据支撑，尤其在纳米材料和器件性能评估中具有不可替代的作用。

检测项目

• 样品形貌分析
• 晶体结构表征
• 晶格常数测定
• 选区电子衍射分析
• 高分辨率成像
• 元素成分定性分析
• 元素分布图（Mapping）
• 颗粒尺寸统计
• 缺陷分析（位错、层错等）
• 界面与表面结构分析
• 薄膜厚度测量
• 纳米颗粒分散性评估
• 电子能量损失谱（EELS）分析
• 能谱仪（EDS）成分分析
• 电子衍射花样标定
• 样品制备质量评估
• 相位识别与物相分析
• 应变场分布研究
• 电子束敏感材料测试
• 生物大分子结构解析

检测范围

• 纳米颗粒材料
• 金属及合金薄膜
• 半导体器件
• 陶瓷材料
• 高分子复合材料
• 生物组织切片
• 量子点材料
• 催化剂材料
• 碳纳米管与石墨烯
• 光伏材料
• 磁性材料
• 锂离子电池材料
• 超导材料
• 矿物与地质样品
• 纤维材料
• 金属氧化物
• 纳米线/纳米棒
• 二维材料（如MoS₂）
• 药物载体颗粒
• 环境污染物微粒

检测方法

• 明场成像（BF-TEM）：通过直接透射电子成像观察样品形貌
• 暗场成像（DF-TEM）：利用衍射束成像增强特定晶体结构对比度
• 高角环形暗场成像（HAADF-STEM）：适用于重元素成分的原子级分辨率成像
• 电子能量损失谱（EELS）：分析元素种类及化学键信息
• 能谱仪（EDS）分析：快速定性定量元素成分检测
• 电子衍射（SAED）：确定晶体结构及取向
• 会聚束电子衍射（CBED）：准确测定晶体对称性
• 动态透射电镜（In-situ TEM）：实时观察样品在外部刺激下的演变
• 三维重构（TEM Tomography）：获取样品三维结构信息
• 低剂量成像：针对电子束敏感样品的保护性成像技术
• 高分辨率TEM（HRTEM）：原子级晶格结构成像
• 纳米束衍射（NBD）：微区晶体结构分析
• 电子全息成像：测定材料内部电场/磁场分布
• 环境透射电镜（ETEM）：可控气氛下的原位观察
• 冷冻电镜（Cryo-TEM）：生物大分子及含水样品的低温固定成像

检测仪器

• 透射电子显微镜（TEM）
• 扫描透射电子显微镜（STEM）
• 场发射透射电镜（FE-TEM）
• 能量色散X射线谱仪（EDS）
• 电子能量损失谱仪（EELS）
• 冷冻样品台
• 原位拉伸样品台
• 气体环境样品腔
• 电子束曝光系统
• 电子衍射相机
• 高灵敏度CCD相机
• 离子减薄仪
• 超薄切片机
• 等离子清洗机
• 真空蒸发镀膜机

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