1. 高温工作寿命试验:85℃±2℃环境下持续工作3000小时,监测光通量衰减率≤10%
2. 温度循环试验:-40℃~+100℃循环100次(15分钟/循环),验证封装材料热膨胀系数匹配性
3. 湿热老化试验:85℃/85%RH条件下持续1000小时,评估荧光粉层抗水解性能
4. 机械振动试验:10Hz~2000Hz随机振动谱型,加速度7Grms持续3轴各30分钟
5. 盐雾腐蚀试验:5% NaCl溶液连续喷雾96小时(35℃±2℃),检查金属部件耐蚀等级
1. LED芯片:GaN基外延片/蓝宝石衬底结构完整性
2. 封装材料:硅胶/环氧树脂透光率保持率(450nm波段衰减≤5%)
3. 散热基板:陶瓷基板(Al₂O₃/AlN)与金属芯PCB导热系数(≥2.5W/m·K)
4. 光学组件:透镜/反射杯黄化指数(ΔYI≤1.5@3000h)
5. 驱动电源:恒流精度(±3%)及浪涌保护(6kV/3kA组合波)
1. LM-80光通维持率测试:IESNA标准3000小时分组数据采集(55℃/85℃/Tc点)
2. IEC 60068-2-14温度变化试验:转换时间≤30秒的极端温度冲击程序
3. GB/T 2423.17盐雾试验:中性盐雾(NSS)与铜加速盐雾(CASS)双模式验证
4. ASTM E1545热阻测量:结温法(Tj)结合红外热成像校准ΔT<3℃
5. GB 7000.1机械强度测试:弹簧锤0.5J冲击能量/10次循环无结构性损伤
1. 高低温湿热试验箱(ESPEC ESG-221WA):温度范围-70℃~+150℃,湿度控制精度±2%RH
2. 振动试验系统(LDS V964-230):最大推力24kN,频率分辨率0.01Hz
3. 分布式光度计(GO-R5000):C-γ测量系统精度±1%,配150W积分球校准光源
4. 热阻测试仪(T3Ster Micred MuSIC):基于JEDEC JESD51标准的瞬态热特性分析
5. 盐雾腐蚀箱(Q-FOG CCT1100):支持循环腐蚀模式(CCT-A/B/C/D)
6. 光谱辐射计(Everfine HAAS-2000):波长范围380nm-780nm,光度线性度±0.3%
7. 静电放电模拟器(EM TEST DITO6000):接触放电30kV/空气放电32kV符合IEC61000-4-2
8. 红外热像仪(FLIR A8580sc):640×512分辨率,NETD<20mK@30℃
9. 光生物安全测试系统(GL Optic LightCheck):EN 62471标准全参数测量模块
10. 加速老化试验箱(Atlas Ci4000 Xenon):光谱匹配度CIE No.85 Class B级要求