1. EVO视讯官方

      导体咨询电话:400-635-0567
      为您找到相关结果 73 条

      GB/T 22586-2018电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻

      GB/T 22586-2018电子学特性测量 超<font color='red'>导体</font>在微波频率下的表面电阻

      2019-12-13  -   标准号:GB/T 22586-2018 采 中文标准名称:电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻 英文标准名称:Electronic characteristic

      GB/T 36477-2018半导体集成电路 快闪存储器测试方法

      GB/T 36477-2018半<font color='red'>导体</font>集成电路 快闪存储器测试方法

      2019-12-11  -   标准号:GB/T 36477-2018 中文标准名称:半导体集成电路 快闪存储器测试方法 英文标准名称:Semiconductor integrated circuit—Meas

      GB/T 36357-2018中功率半导体发光二极管芯片技术规范

      GB/T 36357-2018中功率半<font color='red'>导体</font>发光二极管芯片技术规范

      2019-12-11  -   标准号:GB/T 36357-2018 中文标准名称:中功率半导体发光二极管芯片技术规范 英文标准名称:Technical specification for middle po

      GB/T 36358-2018半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范

      GB/T 36358-2018半<font color='red'>导体</font>光电子器件 功率发光二极管空白详细规范

      2019-12-11  -   标准号:GB/T 36358-2018 中文标准名称:半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 英文标准名称:Semiconductor optoelectronic

      GB/T 36359-2018半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范

      GB/T 36359-2018半<font color='red'>导体</font>光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范

      2019-12-11  -   标准号:GB/T 36359-2018 中文标准名称:半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范 英文标准名称:Semiconductor optoelectron

      GB/T 36360-2018半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范

      GB/T 36360-2018半<font color='red'>导体</font>光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范

      2019-12-11  -   标准号:GB/T 36360-2018 中文标准名称:半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范 英文标准名称:Semiconductor optoelectron

      GB/T 4728.3-2018电气简图用图形符号 第3部分: 导体和连接件

      GB/T 4728.3-2018电气简图用图形符号 第3部分: <font color='red'>导体</font>和连接件

      2019-12-10  -   标准号:GB/T 4728.3-2018 采 中文标准名称:电气简图用图形符号 第3部分: 导体和连接件 英文标准名称:Graphical symbols for electr

      GB/T 4937.11-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法

      GB/T 4937.11-2018半<font color='red'>导体</font>器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法

      2019-12-10  -   标准号:GB/T 4937.11-2018 采 中文标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法 英文标准名称:Semicond

      GB/T 4937.12-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动

      GB/T 4937.12-2018半<font color='red'>导体</font>器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动

      2019-12-10  -   标准号:GB/T 4937.12-2018 采 中文标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动 英文标准名称:Semiconductor devices

      GB/T 4937.13-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾

      GB/T 4937.13-2018半<font color='red'>导体</font>器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾

      2019-12-10  -   标准号:GB/T 4937.13-2018 采 中文标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾 英文标准名称:Semiconductor devices—Me

      中析研究所 - 科研检测中心

      中析研究所提供指标检测,成分分析,MSDS报告编写,实验代做,投标竞标检测服务,未知物分析鉴定等各种科研项目。我要了解>>

      其他搜索: 废钢铁| 消毒副产物| GB 9678.2-2014| 丁二烯| 触变性| 猪油| 硒含量| 单纤维拔出| 接骨螺钉| 二氯乙烷| 陶瓷膜| 16886| 氟乐灵| COD| | 层间剪切强度| 甲基化检测| cod| 彩钢| 溴丙二醛|

      了解我们: 关于我们>> 联系我们>> 检测流程>> 荣誉资质>>

      ☎ 400-635-0567

      投诉电话:010-82491398

      企业邮箱:010@yjsyi.com

      地址:北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121

      山东分部:山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼

      检测分类 更多>>