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镍钴锰三元素检测

镍钴锰三<font color='red'>元素</font>检测

2021-08-21  -  检测项目:元素检测,指标检测等。检测标准参考:YS/T 1339-2019掺杂型镍钴锰三元素复合氢氧化物化学分析方法 铝、镁、钛、锶、锆、镧、钇含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法。

植物大量元素检测

植物大量<font color='red'>元素</font>检测

2021-03-01  -  EVO视讯官方科学技术研究所属于科研机构,国家高新技术企业,检测资质齐全,实验室仪器先进,科研团队强大,一直以公正严谨的科学精神服务客户,全国多家实验室分支,支持上门取样/寄样检测服务。

硝酸钾金属元素分析案例

硝酸钾金属<font color='red'>元素</font>分析案例

2021-01-27  -  样品名称:硝酸钾检测项目:ICP-OES金属元素分析,比较关注铊元素的含量。检测周期:11个工作日报告用途:用于环评验收实验进度:实验已完成

表面元素分析

表面<font color='red'>元素</font>分析

2020-10-23  -  对于样品表面的一些化学信息较为关注时,会采用表面分析技术,目前表面分析涉及到的仪器有扫描电镜-能谱仪(SEM-EDS),X射线光电子能谱仪(XPS),俄歇电子能谱仪(AES)等。扫描电镜-能谱仪(SEM-EDS)可以对样品表面形貌观察,表面元素分析,截面形貌观察,截面元素分析等,分析深度一般为微米(10-6m)级别。X射线光电子能谱仪(XPS)和俄歇电子能谱仪(AES)可对样品进行表面元素分析,表面纵向元素分析,表面元素价态分辨,分析深度通常为纳米(10-9m)级别。

GB/T 29731-2013表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准

GB/T 29731-2013表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 <font color='red'>元素</font>和化学态分析用能量标校准

2020-01-20  -   标准号:GB/T 29731-2013 采 中文标准名称:表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准 英文标准名称:Surfa

GB/T 29732-2013表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准

GB/T 29732-2013表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 <font color='red'>元素</font>分析用能量标校准

2020-01-20  -   标准号:GB/T 29732-2013 采 中文标准名称:表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准 英文标准名称:Surface chemi

GB/T 17564.2-2013电气元器件的标准数据元素类型和相关分类模式 第2部分: EXPRESS字典模式

GB/T 17564.2-2013电气元器件的标准数据<font color='red'>元素</font>类型和相关分类模式 第2部分: EXPRESS字典模式

2020-01-17  -   标准号:GB/T 17564.2-2013 采 中文标准名称:电气元器件的标准数据元素类型和相关分类模式 第2部分: EXPRESS字典模式 英文标准名称

GB/T 30419-2013玩具材料中可迁移元素锑、砷、钡、镉、铬、铅、汞、硒的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

GB/T 30419-2013玩具材料中可迁移<font color='red'>元素</font>锑、砷、钡、镉、铬、铅、汞、硒的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

2020-01-16  -   标准号:GB/T 30419-2013 中文标准名称:玩具材料中可迁移元素锑、砷、钡、镉、铬、铅、汞、硒的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

GB/T 30714-2014电感耦合等离子体质谱法测定砚石中的稀土元素

GB/T 30714-2014电感耦合等离子体质谱法测定砚石中的稀土<font color='red'>元素</font>

2020-01-16  -   标准号:GB/T 30714-2014 中文标准名称:电感耦合等离子体质谱法测定砚石中的稀土元素 英文标准名称:Determination of rare earth i

GB/T 30701-2014表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

GB/T 30701-2014表面化学分析 硅片工作标准样品表面<font color='red'>元素</font>的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

2020-01-16  -   标准号:GB/T 30701-2014 采 中文标准名称:表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

中析研究所 - 科研检测中心

中析研究所提供指标检测,成分分析,MSDS报告编写,实验代做,投标竞标检测服务,未知物分析鉴定等各种科研项目。我要了解>>

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