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光学光电子测试实验

光学<font color='red'>光电子</font>测试实验

2025-05-15  -  光学光电子产品是现代科技领域的重要组成部分,广泛应用于显示技术、通信设备、传感器、照明系统等领域。第三方检测机构通过专业测试实验,确保产品性能符合国际标准及行业规范。检测的重要性在于验证产品可靠性、安全性及能效表现,同时为企业优化设计、提升市场竞争力和通过法规认证提供技术支撑。

GB/T 29556-2013表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定

GB/T 29556-2013表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线<font color='red'>光电子</font>能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定

2020-01-20  -   标准号:GB/T 29556-2013 采 中文标准名称:表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定

GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南

GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线<font color='red'>光电子</font>能谱 分析指南

2020-01-16  -   标准号:GB/T 30704-2014 采 中文标准名称:表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南 英文标准名称:Surface chemical analysis―X-r

GB/T 30702-2014表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南

GB/T 30702-2014表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线<font color='red'>光电子</font>能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南

2020-01-16  -   标准号:GB/T 30702-2014 采 中文标准名称:表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南

GB/T 15651.4-2017半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器

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2019-12-24  -   标准号:GB/T 15651.4-2017 采 中文标准名称:半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器 英文标准名称:Semiconducto

GB/T 22571-2017表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准

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2019-12-21  -   标准号:GB/T 22571-2017 采 中文标准名称:表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准 英文标准名称:Surface chemical analysi

GB/T 36401-2018表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告

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2019-12-11  -   标准号:GB/T 36401-2018 采 中文标准名称:表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告 英文标准名称:Surface chemical analy

GB/T 36358-2018半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范

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2019-12-11  -   标准号:GB/T 36358-2018 中文标准名称:半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 英文标准名称:Semiconductor optoelectronic

GB/T 36359-2018半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范

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2019-12-11  -   标准号:GB/T 36359-2018 中文标准名称:半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范 英文标准名称:Semiconductor optoelectron

GB/T 36360-2018半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范

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2019-12-11  -   标准号:GB/T 36360-2018 中文标准名称:半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范 英文标准名称:Semiconductor optoelectron

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