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中析检测

OLED有机层叠装厚度均匀性(±2nm)

原创版权
咨询量:  
更新时间:2025-06-09  /
咨询工程师

信息概要

OLED有机层叠装厚度均匀性(±2nm)是衡量OLED显示面板性能的关键指标之一,直接影响器件的发光效率、色彩表现及使用寿命。第三方检测机构提供的检测服务,确保产品符合设计规格和行业标准,为研发、生产和质量控制提供可靠数据支持。

检测的重要性在于:厚度均匀性偏差会导致发光层不均匀、电流分布失衡,进而引发亮度不均、色偏或早期失效。通过精准检测,可优化生产工艺,提升产品良率,降低客户投诉风险。

检测信息概括:覆盖材料特性、膜层结构、光学性能等多维度参数,采用国际标准方法及高精度设备,出具检测报告

检测项目

  • 有机层总厚度
  • 空穴传输层厚度
  • 发光层厚度
  • 电子传输层厚度
  • 各层界面粗糙度
  • 膜层折射率
  • 厚度均匀性分布
  • 表面缺陷密度
  • 层间附着强度
  • 热稳定性
  • 湿度敏感性
  • 光学透过率
  • 发光光谱一致性
  • 电流-电压特性
  • 亮度均匀性
  • 色坐标偏差
  • 寿命加速测试
  • 封装气密性
  • 机械应力耐受性
  • 环境光反射率

检测范围

  • 刚性OLED面板
  • 柔性OLED面板
  • 透明OLED器件
  • 顶部发光结构
  • 底部发光结构
  • 白光OLED器件
  • RGB三色器件
  • 量子点混合器件
  • 微显示器件
  • 车载显示面板
  • 手机显示屏
  • 电视用大尺寸面板
  • 可穿戴设备屏幕
  • 照明用OLED板
  • 曲面显示器件
  • 折叠屏模块
  • 透明显示模块
  • 高刷新率面板
  • 低功耗器件
  • 高亮度特种器件

检测方法

  • 椭圆偏振法:通过偏振光反射分析膜层光学常数和厚度
  • X射线反射法:利用X射线干涉测量纳米级膜厚
  • 原子力显微镜:三维形貌扫描测量表面粗糙度
  • 扫描电镜截面分析:直接观测层状结构
  • 白光干涉仪:非接触式表面形貌测量
  • 分光光度法:测定光学透过率及反射率
  • 荧光光谱分析:评估发光层材料特性
  • 台阶仪接触测量:局部厚度准确测定
  • 热重分析:检测材料热稳定性
  • 氦气检漏法:封装气密性测试
  • 加速老化试验:模拟长期使用环境
  • IVL测试系统:电致发光性能综合测试
  • 激光共聚焦显微镜:三维表面形貌重建
  • 纳米压痕测试:机械性能评估
  • 环境测试舱:温湿度循环试验

检测仪器

  • 光谱型椭圆偏振仪
  • X射线衍射仪
  • 高分辨率原子力显微镜
  • 场发射扫描电镜
  • 白光干涉表面轮廓仪
  • 紫外-可见分光光度计
  • 荧光光谱仪
  • 纳米级台阶仪
  • 热重分析仪
  • 氦质谱检漏仪
  • 恒温恒湿试验箱
  • OLED光电测试系统
  • 激光共聚焦显微镜
  • 纳米压痕仪
  • 环境应力筛选箱

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